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한-미 특허청, 특허공동심사 확대 및 협력 합의
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성윤모 특허청장과 안드레이 이안쿠 미국 특허청장이 12(현지시간) 미국 뉴올리언스에서 청장회담을 갖고, 양국 간 특허공동심사(CSP) 확대와 특허분류(CPC) 및 심판 협력 강화 등에 합의했다. 양청은 또한 특허대상의 판단기준에 관한 국제적 논의를 새롭게 시작하는데에도 의견을 같이 했다.
작성 : 2018년 06월 14일(목) 17:46
게시 : 2018년 06월 14일(목) 18:03


김승교 기자 kimsk@electimes.com        김승교 기자의 다른 기사 보기

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